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sunx激光位移傳感器 HL-C235
| 型 號(hào)： | |
| 報(bào) 價(jià)： | 333 |
sunx激光位移傳感器 HL-C235日本神視超高速·高精度激光位移傳感器 HL-C235特點(diǎn)：檢測(cè)距離350mm的產(chǎn)品嶄新加入傳感器系列350±
sunx激光位移傳感器 HL-C235的詳細(xì)資料：
sunx激光位移傳感器 HL-C235
超高速·高精度激光位移傳感器 HL-C235特點(diǎn)：檢測(cè)距離350mm的產(chǎn)品嶄新加入傳感器系列350±
凝結(jié)了新技術(shù)的超高速、高精度激光位移傳感器上新增350mm長(zhǎng)距離檢測(cè)頭，滿足用戶的一切需求。
sunx激光位移傳感器 HL-C235
| 區(qū)分 | 種類 | 形狀 | 檢測(cè)中心距離 和檢測(cè)范圍 | 分辨率 | 光束直徑 | 型號(hào) | 激光等級(jí) |
| 小型·超 高精度 | 小光點(diǎn)型 | 10±1mm | 0.25μm | 約φ20μm | HL-C201AE | CLASS1 | |
| 線性光點(diǎn)型 | 約20×700μm | HL-C201AE-MK | |||||
| 超高精度 | 小光點(diǎn)型 | 30±5mm | 0.25μm | 約φ30μm | HL-C203BE | CLASS2 | |
| 線性光點(diǎn)型 | 約30×1200μm | HL-C203BE-MK | |||||
| 中距離·高精度 | 小光點(diǎn)型 | 110±15mm | 0.25μm | 約φ80μm | HL-C211BE | CLASS2 | |
| HL-C211CE | CLASS3R | ||||||
| 線性光點(diǎn)型 | 約80×1700μm | HL-C211BE-MK | CLASS2 | ||||
| HL-C211CE-MK | CLASS3R | ||||||
| 長(zhǎng)距離·高精度 | 小光點(diǎn)型 | 350±50mm | 0.5μm | 約φ250μm | HL-C235BE | CLASS2 | |
| HL-C235CE | CLASS3R | ||||||
| 線性光點(diǎn)型 | 約250×3500μm | HL-C235BE-MK | CLASS2 | ||||
| HL-C235CE-MK | CLASS3R |
可根據(jù)工件和用途，從10mm的超高精度型到350mm的長(zhǎng)距離型中選擇zui適用產(chǎn)品。
規(guī)格
| 種類 | 小光點(diǎn)型 | 線性光點(diǎn)型 | 小光點(diǎn)型 | 線性光點(diǎn)型 | |||||
| 項(xiàng)目 | 型號(hào) | HL-C235BE | HL-C235BE-MK | HL-C235CE | HL-C235CE-MK | ||||
| 設(shè)置模式 | 擴(kuò)散反射時(shí) | 正反射時(shí) | 擴(kuò)散反射時(shí) | 正反射時(shí) | 擴(kuò)散反射時(shí) | 正反射時(shí) | 擴(kuò)散反射時(shí) | 正反射時(shí) | |
| 檢測(cè)中心距離 | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | |
| 檢測(cè)范圍（ 注2 ） | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | |
| 分辨率（平均次數(shù)）（注3） | 2.0μm [256次] 0.5μm [4096次] | ||||||||
| 線性度（ 注4 ） | ±0.03% F.S. | ||||||||
| 溫度特性 | 0.01% F.S./ ℃ | ||||||||
| 光源 | 紅色半導(dǎo)體激光 級(jí)別2（JIS/IEC） zui大輸出1mW、投光波峰波長(zhǎng)658nm | 紅色半導(dǎo)體激光 級(jí)別2（JIS/IEC） zui大輸出5mW、投光波峰波長(zhǎng)658nm | |||||||
| 光束直徑（ 注5） | 約φ250μm | 約250×3500μm | 約φ250μm | 約250×3500μm | |||||
| 受光元件 | 線性圖像傳感器 | ||||||||
（注1）： 未時(shí)的檢測(cè)條件如下：連接控制器、電源電壓：24V DC、周圍溫度=+20℃、取樣周期40μs、平均次數(shù)256次、檢測(cè)中心距離、由白陶瓷制成的檢測(cè)物體、數(shù)字測(cè)定值。
（注2）：取樣周期為20μs及10μs時(shí)的檢測(cè)范圍如下表所示。
| 型號(hào) | HL-C235□-MK | ||
| 設(shè)置模式 | 擴(kuò)散反射時(shí) | 正反射時(shí) | |
| 取樣周期 | 20μs | 0~+50mm | 0~+42mm |
| 10μs | +36~+50mm | +36~+42mm | |
（注3）通過(guò)將P-P值換算成距離得到這些值。P-P值表示通過(guò)檢測(cè)中心距離測(cè)定值的分布。
（注4）此值表示采用本公司的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)物體進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，相對(duì)于數(shù)字變位輸出的理想直線的誤差。此值會(huì)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象的特征而改變。
（注5） 這是檢測(cè)中心距離上的值。以中心光強(qiáng)度的1/e2（約13.5%）定義這些值。如果定義區(qū)域外有光泄漏，并且檢測(cè)點(diǎn)周圍有高于檢測(cè)點(diǎn)本身的強(qiáng)反射，檢測(cè)結(jié)果可能會(huì)受到影響。
尺寸（單位mm）
設(shè)置模式：擴(kuò)散反射
設(shè)置模式：正反射
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